看透窗戶，看整個行業訊息
更深一步了解更多公司動態、行業資訊
北京凡實測控技術有限公司
400-665-6604 400-665-6604
看透窗戶，看整個行業訊息
更深一步了解更多公司動態、行業資訊
思儀科技推出500GHz多功能芯片測試解決方案
太赫茲技術正加速從實驗室走向商業應用，使得行業對太赫茲芯片測試的要求發生了根本性轉變：測試目標已不再局限于功能層面的“能用”，而是全面追求復雜真實場景中性能穩定、測試高效且成本可控的“好用”。
思儀科技研制出3601型S參數測試模塊、36102型探針、20501型校準片等系列產品，結合商業探針臺，國內首次推出最高頻率至500GHz的高穩定、多功能太赫茲芯片測試解決方案。
圖1 330GHz-500GHz頻段芯片測試儀
高頻
采用分頻段的方式，可將芯片測試頻率擴展至500GHz，能夠實現太赫茲芯片幅度、相位、群時延等參數精準測試。330GHz-500GHz頻段在片雙端口校準后，Thru校驗結果如圖2所示。
圖2 在片校準后Thru校驗結果
高穩定
該方案在500GHz頻段具有良好的幅度穩定性和相位穩定性，能夠適于晶圓級太赫茲芯片的研發驗證與量產測試。圖3為330GHz-500GHz頻段校準后，幅度和相位穩定性測試結果。
（a）幅度穩定性
（b）相位穩定性
圖3 穩定性測試結果
多功能
結合自主開發的多功能測試軟件算法，一次扎針可實現散射參數、功率參數的一體化測試，可大幅度提升晶圓級太赫茲芯片的測試效率和測試精度。圖4為某放大器芯片散射參數（小信號增益、回波損耗，隔離度）和功率參數（輸入功率、輸出功率）測試結果。
圖4 放大器性能測試結果
思儀科技持續關注半導體測試領域創新，除具備高頻測試能力之外，還具備多端口、超寬帶、調制解調等測試能力，已形成微波毫米波與太赫茲晶圓級芯片測試解決方案，可助您構筑穩定、高效的測試環境，解決您的在片測試難題！
版權所有 北京凡實測控技術有限公司 備案編號:京ICP備15015249號
